真空紫外分光光度计PCB抄板及克隆简介

　　该款真空紫外分光光度计的系统是基于原型分光光度法而研制的，汇天PCB抄板科技有限公司早已通过破解原样机获得了该设备的全部技术资料，制作出的样机较原机毫不逊色。
　　技术参数：
　　波长范围 115 nm 至 230 nm 单灯
　　115 nm 至 230 nm 加 160 nm 至 320 nm，双灯
　　光谱分辨率 < 1 nm （160nm 谱线的半高全宽度FWHM ）
　　重现性 < 0.1 nm，在160 nm 和 121.5 nm 处获得验证
　　工作压力 < 1×10-5 毫巴。实践证明这是测量的最佳值
　　测量精度
　　透过率 <0.3%
　　反射率 <0.5%
　　透射出乐队< 0.1%
　　157nm反射率> 0.001%分散
　　Reproducability
　　157nm
　　157nm漫反射光谱小于5%
　　157nm分散反射< 5%
　　汇天PCB抄板科技有限公司长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发，承接一切电子产品的抄板克隆及二次开发业务，欢迎 有相关需求的朋友来电咨询及洽谈。